從1949年美國College of American Pathologists(簡稱CAP)首先開始研究臨床實(shí)驗(yàn)
室室內(nèi)質(zhì)量控制(簡稱質(zhì)控)問題,美國學(xué)者Levery和Jenning于1950年發(fā)表*篇關(guān)于
使用質(zhì)控圖的實(shí)驗(yàn)室室內(nèi)質(zhì)控,臨床檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室的室內(nèi)質(zhì)控工作正式拉序幕。
到70年代,實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制進(jìn)入一個新的階段--全面質(zhì)量管理,推行Good
Laboratory Parctice(簡稱GLP)。進(jìn)入80年代末期,GLP的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)生了,發(fā)展
到"認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室"管理階段。
全面質(zhì)量管理的宗旨在于預(yù)防差錯的產(chǎn)生。質(zhì)控圖的統(tǒng)計學(xué)質(zhì)控的目的是檢出差錯。
統(tǒng)計學(xué)的實(shí)驗(yàn)室室內(nèi)質(zhì)控是全面質(zhì)量管理中的一個重要環(huán)節(jié)。
本章節(jié)主要介紹免疫學(xué)檢驗(yàn)的統(tǒng)計學(xué)室內(nèi)質(zhì)控方法。因?yàn)镋LISA是目前臨床上zui常用
的一種免疫學(xué)檢驗(yàn)方法,就以ELISA檢驗(yàn)為例,介紹一下有關(guān)問題。
衛(wèi)生部臨床檢驗(yàn)中心免疫質(zhì)控室從1988年開始在全國范圍內(nèi)開展乙肝標(biāo)志物檢驗(yàn)的質(zhì)
量評價活動,一直采用這一套質(zhì)量評價方法,并在實(shí)踐中不斷實(shí)踐、提高和完善,希望能
找出一條適合中國國情的,行之有效的質(zhì)量管理的道路。
5.1 基本概念
5.1.1 質(zhì)量控制(Quaility Control,Q.C)
質(zhì)量控制是監(jiān)視全過程,排除誤差,防止變化,維持標(biāo)準(zhǔn)化現(xiàn)狀的一個管理過程。這
一過程是通過一個反饋環(huán)路進(jìn)行的。
1)確定控制的對象;
2)規(guī)定控制對象的標(biāo)準(zhǔn)(預(yù)期值);
3)制定或選擇控制方法和手段;
3)測量實(shí)際數(shù)據(jù);
4)比較或較對實(shí)際數(shù)據(jù)與預(yù)期值之間的差異,并說明產(chǎn)生這一差異的原因。超出預(yù)
定誤差范圍,報警系發(fā)出信號,反饋通道中斷。
5)采取行動,解決差異。恢復(fù)原狀(原標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài))的手段發(fā)揮作用。
質(zhì)量控制主要采用質(zhì)控圖進(jìn)行。質(zhì)控圖是把某一檢驗(yàn)的性能數(shù)據(jù)與所計算出來的預(yù)期
的"控制限"進(jìn)行比較的圖。這種性能數(shù)據(jù)是在按規(guī)程正常進(jìn)行時,按時間順序而抽選出來
的,其目的是檢測檢驗(yàn)過程中變異的"可追查"性原因。"可追逆"性的誤差原因,是指除去
隨機(jī)誤差以外的其他原因。"控制限"是通過統(tǒng)計計算出來的,在后我們將詳細(xì)介紹(見
5.3.室內(nèi)質(zhì)控程序)。
5.1.2 誤差
實(shí)驗(yàn)誤差分為三種:系統(tǒng)誤差、隨機(jī)誤差和過失誤差。
系統(tǒng)誤差是指一系列測定結(jié)果與真值或靶值存在有同一傾向的誤差,有明顯的規(guī)律
性,可在一定條件下重復(fù)出現(xiàn),是可以通過質(zhì)控預(yù)防和校正的。
隨機(jī)誤差又稱偶然誤差,是一種偶然的、未能預(yù)料到的誤差,是難以避免和校正的誤
差。檢驗(yàn)工作中隨機(jī)誤差的分布符合正態(tài)分布規(guī)律。
過失誤差是人為的責(zé)任誤差。通過加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)室管理和開展質(zhì)量控制工作是可以避免
的。
5.1.3 正態(tài)分布及標(biāo)準(zhǔn)差
ELISA試驗(yàn)中,檢驗(yàn)同一樣本達(dá)20次以上時,就會發(fā)現(xiàn)這組數(shù)據(jù)(指測定結(jié)果的吸光
值)分布在均值兩側(cè),大部分集中在均值附近。如果以測定值為橫坐標(biāo),以出現(xiàn)的頻率為
縱坐標(biāo)作圖,就可繪出一個呈鐘形的曲線圖。如圖5-1,鐘頂處為均值,其他值以均值為
中心對稱分布,這就是正態(tài)分布。
正態(tài)曲線以下的面積稱概率,常用樣本的均數(shù)(X)和標(biāo)準(zhǔn)差(SD)來表示
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